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高稳定性化学镀铜液的参数优化
高稳定性化学镀铜液的参数优化
作者:
冯哲圣
杨超
王大勇
薛文明
陈金菊
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
化学镀铜液
稳定性
镀速
参数优化
单因素实验
添加剂
摘要:
采用单因素实验法,以镀液稳定性、镀速及镀层光亮度为指标,优化了化学镀铜液参数以提高镀液稳定性,并研究了添加剂对镀液电化学极化性能的影响。试验结果表明:随着CuSO4·5H2O和HCHO浓度的增加,镀液稳定性有所下降;适量的络合剂和稳定剂的加入能有效提高镀液稳定性。采用优化后的镀液施镀30 min,镀速为4.93μm/h;施镀后的镀液在80℃水浴中的稳定时间大于2 h;所得铜层为具有金属光泽的淡粉红色,铜颗粒排列紧密;镀铜层电阻率低至3.67×10-8Ω·m,铜层与基体之间的附着强度提高至10 N/mm2。
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篇名
高稳定性化学镀铜液的参数优化
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
化学镀铜液
稳定性
镀速
参数优化
单因素实验
添加剂
年,卷(期)
2014,(11)
所属期刊栏目
研究与试制
研究方向
页码范围
47-51,55
页数
6页
分类号
TN605
字数
2669字
语种
中文
DOI
10.14106/j.cnki.1001-2028.2014.11.011
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈金菊
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
36
309
11.0
16.0
2
冯哲圣
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
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13.0
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3
杨超
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
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98
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7.0
4
王大勇
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
1
3
1.0
1.0
5
薛文明
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
1
3
1.0
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研究来源
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研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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电子元件与材料2014年第6期
电子元件与材料2014年第5期
电子元件与材料2014年第4期
电子元件与材料2014年第3期
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