X射线荧光光谱法测定富砷地质样品中的主次痕量元素

• 作者: 付桂花 唐鑫 李高湖 黄艳波 龚仓
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 基体效应 地质样品 砷 粉末样压片
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 研究报告与研究简报
• 页码范围: 1220-1224
• 页数: 5页
• 分类号: O657.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2014.0286

摘要

利用Axios X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了富砷地质样品中As,S,Ti,V,Cr,Mn,Zr,Co,Ni,Cu,Zn,Mo,Ba,Pb,SiO2,Al2O3,Fe2O3,MgO,CaO,Na2O和K2O等21种主次痕量元素,用理论α系数校正基体效应,用强度方式计算重叠系数校正重叠干扰.实验结果表明,该方法除Mo的检出限0.8μg/g超出地球化学普查要求检出限0.5μg/g外,其它元素满足要求;除元素Mo的均值方根高于2倍相对计数统计误差外,其它元素的均值方根均小于2倍相对计数统计误差,且绝大多数元素的均值方根(n=12)都小于1.0％;另外,对国家标准物质的测试结果与标准值相一致.将本方法用于实际样品的测试,分析结果与其它化学分析方法相符.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付桂花		3	5	2.0	2.0
2	龚仓		3	21	2.0	3.0
3	李高湖		2	4	1.0	2.0
4	唐鑫		1	0	0.0	0.0
5	黄艳波		2	4	1.0	2.0