基于SRAM型FPGA的容错性设计

• 作者: 冯汝鹏 徐伟 朴永杰
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子效应 动态刷新 三模冗余 重加载
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 76-80
• 页数: 5页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 3320字
• 语种: 中文

摘要

随着SRAM型FPGA在航天领域中的不断应用,空间环境下单粒子翻转(single event upsets,SEU)问题不断涌现.为了加强航天电子产品在轨的可靠性与安全性,介绍了一种基于Xilinx公司Vertix-Ⅱ系列FPGA的容错性设计,该设计深入研究了动态刷新(Scrubbing)原理,利用反熔丝型FPGA作为控制器实现了对SRAM型FPGA的配置数据进行ms级的周期刷新,并对2种FPGA加入了三模冗余(triple modular redundancy,TMR)及回读比较重加载方法,设计兼顾了系统重构、冗余处理和故障恢复,效果良好.实验结果表明刷新周期仅为131.2 ms,远大于空间单粒子翻转率,能有效地抑制单粒子翻转效应的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐伟	中国科学院长春光学机密机械与物理研究所小卫星技术国建地方联合工程研究中心	107	758	15.0	22.0
2	朴永杰	中国科学院长春光学机密机械与物理研究所小卫星技术国建地方联合工程研究中心	13	118	6.0	10.0
3	冯汝鹏	中国科学院长春光学机密机械与物理研究所小卫星技术国建地方联合工程研究中心	6	38	3.0	6.0