SF6断路器弧触头的关合侵蚀特性

• 作者: 丁璨 何俊佳 原浠超 李志兵 潘垣 袁召
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: SF6断路器 CuW80弧触头 关合侵蚀 预击穿电弧 机械磨损 质量损失
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 高压电器及其智能化
• 页码范围: 3228-3234
• 页数: 7页
• 字数: 3963字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.10.040

摘要

SF6断路器关合操作时产生的关合涌流对弧触头会造成严重的侵蚀.为了研究弧触头在关合情况下的侵蚀特性,设计了模拟的SF6断路器灭弧室,对CuW80弧触头进行了关合侵蚀实验.实验记录了每次的燃弧时间和电流峰值,并计算了100次实验后的质量损失率.每20次关合实验后,拍摄触头表面照片,测量弧触头的接触电阻和工频耐压.最后分析了SF6断路器弧触头的关合侵蚀特性并探讨了侵蚀机理.认为在关合实验中弧触头的侵蚀来源有两个:一个是关合前预击穿电弧的烧蚀,一个是烧蚀后弧触头变软后的机械磨损,并且机械磨损的量占有相当的比例不可忽略.在电流峰值18kA,燃弧时间＜2 ms,机构速度7m/s的情况下,机械磨损过程中的质量损失率大于1.0 mg/C,这也是关合情况下触头质量损失更大的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘垣	华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室	102	2042	26.0	40.0
2	李志兵		31	561	15.0	23.0
3	袁召	华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室	18	252	8.0	15.0
4	丁璨	华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室	2	21	1.0	2.0
5	原浠超	华中科技大学电气与电子工程学院强电磁工程与新技术国家重点实验室	1	21	1.0	1.0