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生生不息——我国集成电路测试的自主创新之路
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摘要：
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如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
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软件
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CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
互补金属氧化物半导体集成电路
电源电流
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基于LabVIEW的集成电路测试分析仪
集成电路测试
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国外电子测量技术
主办单位：
北京方略信息科技有限公司
出版周期：
月刊
ISSN：
1002-8978
CN：
11-2268/TN
开本：
大16开
出版地：
北京东城区北河沿大街79号2楼
邮发代号：
82-141
创刊时间：
1982
语种：
chi
出版文献量（篇）
5838
总下载数（次）
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总被引数（次）
30622
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