高纯锗探测器的效率刻度

• 作者: 刘艺琴 华艳 朱祚缤 罗小兵
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高纯锗 效率刻度 MCNP 多线法
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 86-88,116
• 页数: 4页
• 分类号: TL812
• 字数: 1141字
• 语种: 中文

摘要

探测效率是高纯锗谱仪的重要性能指标，探测器的效率刻度具有重要的意义。针对新购置的高纯锗谱议，采用多线法和距离变换相结合的实验方法，刻度了高纯锗探测器在不同源距下的全能峰效率曲线，并利用厂家提供的探头结构尺寸，采用MCNP5程序模拟计算了该探测器对不同能量γ射线的全能峰效率。将模拟计算效率和实验效率进行对比，模拟计算的全能峰效率和实验测定的全能峰效率具有一定偏差，经分析偏差主要原因是探测器内部结构尺寸不够精确，通过调节死层厚度和冷指尺寸，使得模拟计算效率和实验效率很好符合。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗小兵	四川大学原子核科学技术研究所	24	97	4.0	9.0
2	刘艺琴	四川大学原子核科学技术研究所	4	16	1.0	4.0
3	朱祚缤	四川大学原子核科学技术研究所	3	16	1.0	3.0
4	华艳	四川大学原子核科学技术研究所	3	16	1.0	3.0