某双链综合信息处理机测试设备设计与实现

• 作者: 张阳
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试系统 双链综合信息处理机 ARINC429
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 图像·编码与软件
• 页码范围: 177-178,181
• 页数: 3页
• 分类号: TP278
• 字数: 1887字
• 语种: 中文

摘要

分析了某双链综合信息处理机测试需求,介绍了一种基于工控机板卡的综合信息处理机测试设备的设计,以及基于VC++的软件开发.该设备的测试主要分为综合信息处理机功能的自动测试和实装设备联试时综合信息处理机性能指标的测试,且整个测试结果可自动报表输出.