基于电压变化率的IGBT结温预测模型研究

• 作者: 刘宾礼 刘德志 唐勇 汪波 王瑞田 罗毅飞
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 载流子浓度 迁移率 电压变化率 结温预测模型
• 年，卷（期）: 2014,（17）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 177201-1-177201-10
• 页数: 1页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.63.177201

摘要

基于半导体物理和IGBT基本结构，通过合理简化与理论推导，建立了电压变化率模型，对电压变化率的影响因素与温度特性进行了深入研究，得出电压变化率随电压或电流的增大，线性增大；随结温增大，线性减小。基于电压变化率模型，建立了IGBT电压变化率结温预测模型。仿真和实验结果验证了模型的正确性与准确性。对实现IGBT结温在线监测、提高IGBT模块及电力电子装置可靠性具有一定的理论意义和应用价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘德志	海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室	64	680	15.0	22.0
2	汪波	海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室	20	480	13.0	20.0
3	唐勇	海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室	26	632	14.0	25.0
4	王瑞田	海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室	27	112	6.0	9.0
5	刘宾礼	海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室	21	337	9.0	18.0
6	罗毅飞	海军工程大学舰船综合电力技术国防科技重点实验室	15	115	5.0	10.0