ASIC 的可靠性与容错设计方法

• 作者: 李仲秋
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 数字逻辑 可靠性 容错纠错
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TN702
• 字数: 3009字
• 语种: 中文

摘要

在分析ASIC数字逻辑在当前主流工艺下的特点及其影响可靠性设计因素的基础上，总结了实现容错目标的难点与一般方法。阐述了几种容错设计的电路，并对各电路的可靠性设计特点进行了比较或提出改进思路。对核电子系统中的复杂粒子照射环境，良好的电磁兼容设计也是一个保护系统中电路的好方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李仲秋		14	92	5.0	9.0