不同厚度像素CdZnTe探测器的性能测试和评估

• 作者: 张流强 曹玉琳 沈敏 肖沙里 陈宇晓
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 碲锌镉 探测器 能量谱 能量分辨率 峰值效率
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 204-209
• 页数: 6页
• 分类号: TL817
• 字数: 4531字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB201426.034001

摘要

碲锌镉材料(CdZnTe)是目前探测X射线和γ射线的最好材料之一.将241Am和137Cs辐射源作用于像素CdZnTe探测器,通过实验和仿真分别得到能量谱估计、能量分辨率和峰值效率.由实验和仿真结果得出:在662 keV的高能量下,厚度较大的CdZnTe探测器可获得更高的能量分辨率和峰值效率,但在59.5keV低能处会出现拖尾升高和电荷损失的现象;厚度较薄的探测器在低能处的特性反而更好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖沙里	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	123	988	14.0	24.0
2	陈宇晓	中国工程物理研究院电子工程研究所	32	161	7.0	10.0
3	张流强	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	34	188	7.0	11.0
4	沈敏	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	6	24	3.0	4.0
8	曹玉琳	中国工程物理研究院电子工程研究所	15	58	5.0	6.0