一种高频电大尺寸天线测试的新方法

• 作者: 刘广 易敏 王宏建 薛飞 赵鑫 陈雪
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电大尺寸 光学测试 天线方向图 太赫兹
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1365-1368
• 页数: 4页
• 分类号: TN821
• 字数: 2386字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.07.018

摘要

文章提出一种简单可行的高频电大尺寸天线辐射测量新方法。该方法基于天线形面光学精密测量，将形面分为多个区域，每个区域带入实际光学测试采样点数据，采用电磁场数值计算得到天线的辐射方向图。光学测试系统提供了足够高的测试精度可以满足微波、毫米波甚至太赫兹等频段天线的测试要求。该方法还可以解决超大型可展开天线测试以及模拟星载环境实验条件下天线辐射测试难题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宏建	中国科学院微波遥感重点实验室	20	87	6.0	7.0
2	刘广	中国科学院微波遥感重点实验室	28	132	7.0	10.0
6	赵鑫	中国科学院微波遥感重点实验室	44	1057	16.0	32.0
7	陈雪	中国科学院微波遥感重点实验室	46	418	11.0	18.0
8	易敏	中国科学院微波遥感重点实验室	8	20	3.0	4.0
9	薛飞	中国科学院大学研究生院	9	45	4.0	6.0