TGO不规则生长对热障涂层界面残余应力的影响

• 作者: 刘超凡 谈梅兰
• 来源期刊: 中国陶瓷
• 学科: 工学
• 关键词: 热障涂层 有限元方法 残余应力 氧化层 BC孤岛
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 28-34
• 页数: 7页
• 分类号: TG174.453
• 语种: 中文

摘要

采用有限元方法,利用Abaqus商用软件,对TGO(thermally grown oxide)层局部生长引起的残余应力进行了数值模拟计算,在TGO内部是否存在孤岛对应力分布的影响进行了对比分析.结果表明:当不存在BC孤岛时,TGO凸起的底端应力集中明显,容易发生开裂、破坏;当存在Bc孤岛时,能够极大地增加涂层的应力,并且在BC孤岛处形成了明显的应力集中,导致破坏.从而为氧化层的失效判断以及热障涂层寿命预测提供一定的帮助.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈梅兰		26	144	7.0	11.0
2	刘超凡		1	0	0.0	0.0