基于MSP430的圆度仪测控系统的研究

• 作者: 何永义 肖森斌
• 来源期刊: 机械制造
• 学科: 工学
• 关键词: 圆度仪 MSP430 LZX1C AD574
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 试验·检测
• 页码范围: 81-84
• 页数: 4页
• 分类号: TH711
• 字数: 1584字
• 语种: 中文

摘要

研究了基于MSP430系列单片机的圆度仪测控系统,设计的圆度仪是基于上、下位机的两级控制模式,下位机实现信号的处理及数据采集,上位机实现数据的处理及圆度的评定.通过测量,验证标准件的圆度误差保持在0.05 μm以下,符合仪器的要求.目前该系统已经用于实际生产中对工件的测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何永义	上海大学机电工程与自动化学院	78	503	13.0	19.0
10	肖森斌	上海大学机电工程与自动化学院	1	1	1.0	1.0