AOI检测系统的光源照明模式和控制电路设计

• 作者: 任斌 何春红
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷检测系统 照明模式 控制电路 设计
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 115-120
• 页数: 6页
• 分类号: TP273
• 字数: 4937字
• 语种: 中文

摘要

针对在不同照明方式下会出现不同的缺陷特征,根据不同缺陷的检测方法和采用的照明方式密切相关的特点,设计了光源二级照明系统及控制电路.此系统可随着对象检测的不同而采用对应的照明方式,不同缺陷在相对应照明方式下,可检测到对象的最优图像质量.控制电路既能在不同的环境中调节光源的亮度,又可单独调节需要重点突出某一缺陷部分的区域,达到了AOI检测系统对各种元件图像采集检测的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任斌	东莞理工学院电子工程学院	49	340	10.0	16.0
2	何春红	广东守门神电子科技有限公司技术部	4	9	2.0	3.0