浅谈黑盒测试中批量程序逻辑分支覆盖完整性分析方法

• 作者: 张佑飞 曲寅生 郭丽
• 来源期刊: 中国金融电脑
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 开发测试
• 页码范围: 47-50
• 页数: 4页
• 字数: 3574字
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭丽	中国工商银行股份有限公司数据中心	3	3	1.0	1.0
2	曲寅生	中国工商银行股份有限公司数据中心	1	3	1.0	1.0
3	张佑飞	中国工商银行股份有限公司数据中心	1	3	1.0	1.0