基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪

• 作者: 张晶 曹佃生 薛庆生
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 光学设计 平面光栅光谱仪 Schwarzschild结构 高光谱成像仪
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 2321-2328
• 页数: 8页
• 分类号: TH744.1|TP73
• 字数: 3578字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20142209.2321

摘要

为了满足高分辨率大相对孔径宽波段高光谱成像仪的要求,提出并设计了一种基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪.基于几何像差理论,推导出了像散校正条件,利用Matlab软件编制了初始结构参数快速计算程序.作为实例,设计了一个相对子径为1/2.5,波段为350～1 000 nm的平面光栅光谱仪光学系统.利用自己编制的Matlab程序计算了初始结构参数,然后利用光学设计软件ZEMAX-EE对该光谱仪的光学系统进行了光线追迹和优化设计,并对设计结果进行分析.结果表明,在整个工作波段(350～1 000 nm)内,点列图半径均方根值小于8.2 m,实现了大相对孔径宽波段像散同时校正,在宽波段内同时获得了良好的成像质量,满足了设计指标要求.所提出的基于双Schwarzschild结构的平面光栅光谱仪在高光谱遥感领域很有应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛庆生	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	46	272	11.0	15.0
2	张晶	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	71	1325	21.0	35.0
6	曹佃生	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	22	54	4.0	6.0