重频电磁脉冲对可控硅触发系统的电磁干扰

• 作者: 何山红 冯德仁 刘梦菲 姚锋 熊瑛 车文荃
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 重频电磁脉冲 可控硅 电磁干扰 积累效应 共地耦合 操作过电压
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容与工程电磁场
• 页码范围: 2693-2698
• 页数: 6页
• 字数: 3859字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.09.012

摘要

针对重频电磁脉冲(EMP)干扰现象,以可控硅门极触发电路为研究对象,进行了门极共地耦合电磁干扰的理论研究,并针对重频EMP环境下可控硅触发的可靠性,分别进行了不同重频EMP数量与不同重频EMP时间间隔下可控硅的触发输出实验.结果表明:重频EMP会影响可控硅的触发,重频EMP数量增多与间隔减小均使可控硅误触发的可能性增大.对比理论分析与实验结果,认为重频EMP干扰是由于重频EMP累积效应与重频EMP高频分量增强从而导致交互作用耦合增强所引起.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何山红	安徽工业大学电气与信息工程学院	13	21	2.0	4.0
2	车文荃	南京理工大学电子工程与光电技术学院弹道国防科技重点实验室	12	33	3.0	5.0
3	冯德仁	安徽工业大学电气与信息工程学院	50	179	7.0	9.0
4	姚锋	安徽工业大学电气与信息工程学院	1	6	1.0	1.0
5	刘梦菲	安徽工业大学电气与信息工程学院	2	8	2.0	2.0
6	熊瑛	南京理工大学电子工程与光电技术学院弹道国防科技重点实验室	3	19	3.0	3.0