漏泄同轴电缆测试系统

• 作者: 孙晓彤 沈思远 黄昶
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: VISA LabVIEW 8.20 Access 漏泄同轴电缆测试系统
• 年，卷（期）: 2014,（13）
• 所属期刊栏目: 电子技术应用
• 页码范围: 129-131
• 页数: 3页
• 分类号: TN911.7-34
• 语种: 中文

摘要

通过对VISA虚拟架构的研究，以NI LabVIEW 8.20开发环境为基础，通过GPIB接口与R&S FSL3以及R&S SMB100A进行连接，以USB接口与NI USB-9162相连，并以Microsoft Office Access数据库作为载体，进行损耗测量数据记录、分析、报表生成等工作，共同构建了一个漏泄同轴电缆测试系统。该测试系统已在江苏一知名电缆制造工厂投入测试应用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄昶	华东师范大学通信工程系	56	258	10.0	13.0
2	沈思远	华东师范大学通信工程系	2	1	1.0	1.0
3	孙晓彤	华东师范大学通信工程系	1	0	0.0	0.0