半导体夹心谱仪测量裂变中子能谱的不确定度

• 作者: 曾丽娜 郑春
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 中子能谱 不确定度 半导体夹心谱仪 中子注量率 裂变中子
• 年，卷（期）: 2014,（Z1）
• 所属期刊栏目: 物理
• 页码范围: 22-27
• 页数: 6页
• 分类号: TL326
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2014.48.S0.0022

摘要

本文通过对中子能谱的不确定度的阐释,明确提出了中子能谱的不确定度应理解为能区份额或某一能量范围内中子注量(率)的不确定度.以6 Li夹心半导体中子谱仪测量CFBRⅡ堆泄漏中子谱为例,对3个典型能区的中子注量率谱的不确定度进行了分析.当全谱中子注量率为3.00×10 7 cm 2·s 1时,0～20 keV能区内的中子注量率为5.70+2.330.33×105 cm 2·s 1(不确定度中的包含因子k=1),0.59～0.61 MeV能区内的中子注量率为(4.32±0.87)×105 cm 2·s 1(k=1),4.99～5.01 MeV能区内的中子注量率为0.094+2.0280.022×105 cm 2·s 1(k=1).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑春	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	40	124	7.0	9.0
5	曾丽娜	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	4	5	2.0	2.0