等离子体发射光谱法测定的应用探析

• 作者: 贾燕
• 来源期刊: 技术与市场
• 关键词: 岩石矿物 二氧化硅 等离子体发射光谱法
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 技术研发
• 页码范围: 122,124
• 页数: 2页
• 字数: 2996字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8554.2014.05.069

摘要

用等离子体发射光谱法测定岩石矿物中二氧化硅的含量,和其他化学分析法相比,其克服了常规化学分析法工作量大、耗时长、步骤繁琐、测量准确度低等方面的缺点,显著的提高了工作效率以及测量精度与准确度.文章采用等离子体发射光谱法测定岩石矿物中二氧化硅的含量,试验结果表明,二氧化硅的检出限为0.008 0 mg/L;测定范围为0.023％ ～9.2％;方法的精密度均＜1.8％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾燕		3	0	0.0	0.0