高光谱成像技术无损检测水果缺陷的研究进展

• 作者: 牟鑫 田有文 程怡
• 来源期刊: 农机化研究
• 学科: 工学
• 关键词: 高光谱成像 水果 缺陷 无损检测
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 农业发展新视点
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.41
• 字数: 5533字
• 语种: 中文

摘要

水果缺陷无损检测是水果分级的重要依据。随着图像技术与光谱信息的发展、高光谱成像系统硬件成本的下降和性能的提升，高光谱成像技术在水果缺陷无损检测方面获得了越来越多的应用。为了能充分利用最新研究成果，从高光谱成像技术在水果的缺陷无损检测方面，综述了水果损伤、病害、虫害等缺陷无损检测的研究进展，并对其发展方向进行了展望。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田有文	沈阳农业大学信息与电气工程学院	68	945	17.0	29.0
2	牟鑫	沈阳农业大学信息与电气工程学院	3	36	3.0	3.0
3	程怡	沈阳农业大学信息与电气工程学院	5	113	5.0	5.0