熔制温度对铁硅酸盐玻璃体积电阻率的影响

• 作者: 张然 王咏丽 王琦 赵小齐
• 来源期刊: 硅酸盐通报
• 学科: 工学
• 关键词: MRPC 电极玻璃 体积电阻率 电子导电 熔制温度
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 专题论文
• 页码范围: 1640-1642
• 页数: 3页
• 分类号: TQ173
• 字数: 2332字
• 语种: 中文

摘要

在没有保护气氛情况下,对铁硅酸盐分别在不同熔制温度下进行熔制,并对玻璃进行电阻率测试,从而确定不同熔制温度对铁硅酸盐玻璃的体积电阻率的影响,进而分析不同熔制温度对电阻率影响的规律.为在无保护气氛下生产出电阻率达到1010数量级电阻玻璃提供熔制工艺技术依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王咏丽		5	15	2.0	3.0
2	张然		3	1	1.0	1.0
3	王琦		3	1	1.0	1.0
4	赵小齐		1	0	0.0	0.0