一种非插桩采样嵌入式软件性能测试方法

• 作者: 刘奕宏 戴青云 杨春晖 陈松立
• 来源期刊: 软件
• 学科: 工学
• 关键词: 非插桩采样 嵌入式软件 性能测试 软件测试
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 基金项目论文
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.1
• 字数: 2848字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6970.2014.12.001

摘要

随着嵌入式系统工业在国内的飞速发展，国内软件测试工具的研制有了较显著的进展。为了解决目前嵌入式软件测试工具的价格昂贵、功能单一的弊端，以及针对不同嵌入式软件提供不同的性能测试，本文提出的非插桩采样嵌入式软件性能测试方法是针对函数 CPU 执行的热度，解决性能瓶颈的检测问题，可以加快嵌入式软件性能检测的速度，并做实验加以证明。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴青云	广东工业大学信息工程学院	94	1655	17.0	39.0
2	杨春晖		18	37	4.0	5.0
3	陈松立	广东工业大学信息工程学院	2	11	1.0	2.0
4	刘奕宏		3	10	1.0	3.0