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IGBT内部热电耦合分析方法
IGBT内部热电耦合分析方法
作者:
金星
魏秀琴
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
牵引力
半导体
IGBT
芯片
温度分布
摘要:
铁路以牵引动力大、重量轻、体积小、可靠性高、运行成本低及速度快等特点为发展方向,决定了机车传动系统采用先进的交流传动系统已成为必然。随着IGBT功率等级和开关频率的提高,IGBT的工作性能和寿命的受热影响会越来越大。将IGBT细胞元的边界条件与半导体的基本方程结合起来求解出其内部的温度场,知道在芯片内部温度比较高的区域,并且找出影响温度分布的因素,从而找出降低温度的办法。
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文献信息
篇名
IGBT内部热电耦合分析方法
来源期刊
企业技术开发
学科
工学
关键词
牵引力
半导体
IGBT
芯片
温度分布
年,卷(期)
2014,(11)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
9-10
页数
2页
分类号
TN386
字数
语种
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
魏秀琴
兰州交通大学机电工程学院
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7
1.0
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金星
兰州交通大学机电工程学院
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2014(0)
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节点文献
牵引力
半导体
IGBT
芯片
温度分布
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
企业技术开发
主办单位:
湖南省科学技术信息研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1006-8937
CN:
43-1172/TB
开本:
大16开
出版地:
湖南省长沙市八一路59号
邮发代号:
42-60
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
12143
总下载数(次)
2
总被引数(次)
46849
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