回路存在缺陷造成直流接地的深入分析

• 作者: 刘颿 滕安 邹德乾
• 来源期刊: 科技风
• 关键词: 分布电容 直流接地 回路缺陷 multisim
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 应用科技
• 页码范围: 101-102
• 页数: 2页
• 字数: 1033字
• 语种: 中文

摘要

在二次回路中，由于分布电容的存在，导致直流接地时二次回路误导通，进而引发保护误动作。本文通过在保护定检中发生的一起瞬时接地现象，分析出是因为厂家接线原因而导致直流电源Ⅰ段负与直流电源Ⅱ段正相连。然后通过multisim软件构造电路模型，深入分析在分布电容值不同大小下，继电器的动作时间情况。最后为今后防范此类回路缺陷提出意见。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	滕安		1	0	0.0	0.0
2	邹德乾		2	1	1.0	1.0
3	刘颿		1	0	0.0	0.0