基于攻击树的安全芯片穿透性测试评估

• 作者: 张俊彦 陈清明
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 安全芯片 穿透性测试 攻击树 攻击代价 攻击路径 非侵入式攻击 半侵入式攻击
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 安全技术
• 页码范围: 115-119,124
• 页数: 6页
• 分类号: TP309
• 字数: 5147字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2014.06.025

摘要

随着安全芯片应用范围的不断扩大和应用环境的日趋复杂,需要通过穿透性测试验证芯片的安全性,同时有必要对测试进行评估.为此,提出一种基于攻击树模型的安全芯片穿透性测试评估方法.分析安全芯片的穿透性测试过程,采用攻击树模型作为穿透性测试的描述模型,在此基础上提出攻击事件的多属性赋值方法、攻击代价的推算方法和攻击路径的分析方法.应用结果表明,该方法可准确评估安全芯片穿透性测试结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张俊彦		6	19	1.0	4.0
2	陈清明		7	38	3.0	6.0