双折射滤波器晶体片厚度精度与滤波性能的研究

• 作者: 吴福全 吴闻迪 周军 周田华 王会丽
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 光学器件 偏振光学 双折射滤波器 偏振干涉 厚度精度 滤波性能
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 测量与计量
• 页码范围: 206-210
• 页数: 5页
• 分类号: O436.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201441.1208009

摘要

为了对双折射滤波器中晶体片厚度需要达到的精度进行定量分析,根据双折射滤波器的滤波原理,引入了晶体片材料的双折射率色散,得出了晶体片的厚度偏差、相位延迟量偏差、目标波长移动量之间的关系,最后进行了模拟验证.结果表明,对于铌酸锂晶体制作的晶体片,材料的双折射率色散是不可忽略的,基于它得到的厚度精度是保证滤波器性能的必要条件,这些研究结论对于高性能双折射滤波器的实际制作有重要的参考价值.