GIC4117串列加速器外束 PIXE／PIGE 分析系统

• 作者: 于令达 初钧晗 吴冰冰 安坤 李旭芳 王广甫
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 外束 PIXE/PIGE 探测限
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 1290-1295
• 页数: 6页
• 分类号: TL52
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2014.48.07.1290

摘要

本文介绍在北京师范大学GIC4117串列加速器上建立的外束PIXE/PIGE分析系统，和基于此系统的薄样品外束PIXE/PIGE定量分析方法。给出了2010年Teflon滤膜采集的361个气溶胶样品外束PIXE分析得到的各元素平均探测限和最低探测限，并同真空 PIXE分析探测限进行了比较。利用标准样品给出了激发曲线不同坪区薄样品外束PIGE分析F和Na的探测限，通过测定19 F（p ，p′γ）19 F激发的197 keV γ射线得到的F的探测限可达73.9 ng · cm -2，Na的探测限可达198.9 ng · cm-2。