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摘要:
配合中国工程物理研究院的中子衍射应力谱仪开展形状记忆材料的相关研究,设计了一套原位温度加载系统。该系统可为测量样品提供25~800℃温度环境,温度控制器采用大林改进算法,有效地消除了温度过冲问题。该系统已开展了多次带束测试,结果表明其结构设计适用于中子衍射实验,温度控制在上升阶段无超调、稳态误差为±1℃,满足形状记忆材料的温度加载实验要求。
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文献信息
篇名 用于形状记忆材料研究的中子衍射原位温度加载系统
来源期刊 强激光与粒子束 学科 工学
关键词 形状记忆材料 中子衍射 原位加载 温度控制 温度过冲
年,卷(期) 2014,(10) 所属期刊栏目 粒子束技术
研究方向 页码范围 104005-1-104005-5
页数 1页 分类号 TP273
字数 2766字 语种 中文
DOI 10.11884/HPLPB201426.104005
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研究主题发展历程
节点文献
形状记忆材料
中子衍射
原位加载
温度控制
温度过冲
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
强激光与粒子束
月刊
1001-4322
51-1311/O4
大16开
四川绵阳919-805信箱
62-76
1989
chi
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