原子力显微镜探针针尖修饰的研究进展

• 作者: 吴召洪 宋亦兰 蒋文平 附青山 陈建
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: 原子力显微镜 针尖修饰 高分辨率 化学键 微观摩擦力 粘附力
• 年，卷（期）: 2014,（15）
• 所属期刊栏目: 材料综述
• 页码范围: 62-68
• 页数: 7页
• 分类号: TQ595
• 字数: 5819字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11896/j.issn.1005-023X.2014.15.012

摘要

介绍了当前几种AFM探针针尖修饰技术,以及它们在高分子材料、生物材料、微观摩擦学、粘附力、纳米级电化学、碳纳米管及纳米加工方面的研究进展.AFM探针针尖修饰的目的主要是:提高扫描图像分辨率,其分辨率可达纳米或亚纳米级别;用力曲线探究特定基团间的相互作用,定量分析端基与端基之间、分子链与分子链之间及端基与分子链之间的相互作用力,避免针尖对生物样品表面的损坏;对分子材料结构进行修饰,特别是在生物细胞、DNA分子链上及分子识别;避免Si或Si3 N4针尖与表面硬度较大的样品直接接触,延长探针针尖的使用寿命.在研究天然橡胶硫化的作用机理时,可以用针尖修饰技术来模拟这个过程,探究天然橡胶分子链与单个硫原子的相互作用方式与作用力.通过电化学接枝聚合把高分子接枝在AFM针尖上,为研究单链的弹性力、引起构象转变的力、相互作用的双分子的分离力及特定的官能团的相互作用提供了许多可能性.分析了影响AFM探针针尖修饰的因素,结合材料领域方面的发展,对针尖修饰技术的发展及应用前景做了分析和预测.