基于LBIST的纠检错电路验证方法与实现

• 作者: 崔媛媛 张洵颖 李振辉
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 逻辑内建自测试 纠检错电路 故障注入 单粒子翻转 线性反馈移位寄存器
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 试验与评价技术
• 页码范围: 2146-2147,2153
• 页数: 3页
• 分类号: TP302.8
• 语种: 中文

摘要

基于逻辑内建自测试的设计原理,提出了一种针对纠检错电路进行功能自测试的方法,根据纠检错电路具有固定纠检错能力的特点,无需存储海量的比较数据,也不需要设计响应特征分析器对结果数据进行压缩处理,针对具体的纠检错电路,通过增加特别设计的注错逻辑可实现任意类型的故障注入,并根据注错信息可对结果进行预测,通过与预期结果比较,可达到验证的目的;最后,以(40,32)海明编码与解码电路为例,实现了其功能自测试结构,并对所有240-1种故障进行了注入与验证;结果表明使用本文的验证方法,可实现纠检错电路的自动化随机验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张洵颖		24	67	5.0	7.0
2	崔媛媛		5	12	2.0	3.0
3	李振辉		3	5	2.0	2.0