一种基于ATE的FPGA测试方法研究

• 作者: 刘子龙 孙佳郡 韩光鲜
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 测试技术 分治法 一维阵列法
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 基金项目
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TP206+.1
• 字数: 2030字
• 语种: 中文

摘要

以Xilinx公司的XC6VLX550T系列FPGA芯片为研究对象,结合各种故障模型等测试技术,把“分治法”和“一维阵列法”相结合起来作为基本测试思路,并建立V93000测试平台的测试程序开发流程,探索出一种通用的FPGA测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘子龙	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	37	107	6.0	7.0
2	孙佳郡	上海理工大学光电信息与计算机工程学院	3	16	3.0	3.0
3	韩光鲜		3	15	3.0	3.0