一种太赫兹脉冲探测芯片性能分析

• 作者: 彭建昌 李爽 熊正锋 王光强 王建国 王雪锋 陆希成
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 太赫兹 脉冲测量 芯片 大功率 性能分析
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: 太赫兹技术
• 页码范围: 218-222
• 页数: 5页
• 分类号: O441.6|O473
• 字数: 2832字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201426.083103

摘要

针对一种已经完成模拟设计、工艺研究及成品开发,且线度仅为百μm量级的太赫兹脉冲热载流子探测芯片展开了几何参数及电参数测试,并对其性能进行了分析探讨.结果表明:探测芯片具有较小的几何加工偏差和良好的欧姆接触效果;模拟计算的结果表明这种量级几何加工偏差对相对灵敏度影响可以忽略;综合分析各种测试测量结果,进一步验证了芯片开发工艺和测试结果的有效性.