复杂模拟电路知识表示的关键技术研究

• 作者: 冯建呈 王宏伟 陈冰 鲁刚
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 故障仿真 特征提取 最优测试点集
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 2049-2051
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文

摘要

在装备中应用复杂模拟和数模混合电路,可大幅度提升装备性能,但同时对电路故障诊断提出了更高的要求;研究故障特征优选、测试节点优化等关键技术,实现了最优测试点集构造和基于故障特征提取的知识表示自动生成功能,可有效解决当前模拟和数模电路故障诊断存在的问题,提高故障诊断效率;采用典型装备电路的试验验证,实现了多类型知识表示的生成,并且所构造最优测试点集数量为全部测试点的32％,试验表明,所述技术具有很好的实用与推广价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈冰	海军工程大学电子工程学院	17	80	7.0	8.0
2	冯建呈		9	14	2.0	3.0
3	王宏伟		7	10	1.0	3.0