基于二次线性插值的测试性分配方法研究

• 作者: 刘倩倩 王红霞
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 指标分配 二次线性插值 测试性
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 2037-2039
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文

摘要

为了实现对测试性指标的合理高效分配,考虑当前测试性发展的主流技术,以及分析测试性分配影响因素的基础上,提出了基于二次线性插值的测试性分配方法;运用测试性建模的理念,首先对系统进行横向划分和纵向划分,实现LRU与功能属性之间的映射关系,并对LRU进行聚类,根据聚类结果对指标进行第一次分配,即把指标分配给功能属性;然后,在功能属性的要求下,考虑各LRU的故障率、测试和故障扩散强度等特性参数,进行第二次插值分配;最后用实例进行了验证,结果表明:分配过程简单,结果可信无需修正,更符合实际要求;提出的方法打破了传统级级分配测试性指标的理念,采用两次分配即可实现系统级指标到LRU级指标的分配.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王红霞		92	354	12.0	15.0
2	刘倩倩		9	16	3.0	3.0