数字IO电路板的嵌入式测试性设计方案

• 作者: 吴朝华 徐鹏程 李洋 杜影
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 嵌入式测试 可测性 边界扫描 BIST
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 2027-2030
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文

摘要

近年来,随着DSP、FPGA等大规模集成电路的发展,电子系统的性能也在大大提高,但同时给电子系统带来了新的测试和故障诊断问题;为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;文中从嵌入式测试的基本概念出发,介绍了嵌入式边界扫描、非侵入式测试等先进的板级嵌入式测试技术,并阐述了模拟嵌入式测试性设计的难点和基础电路原则,同时给出了基于FPGA的嵌入式测试控制器设计方案;然后,面向数字IO电路板,针对其关键功能电路展开嵌入式测试性设计,简要说明了测试程序的开发与下载;根据测试验证结果,嵌入式测试性设计可以增强测试自动化、提高测试效率,从而能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜影		12	19	2.0	3.0
2	吴朝华		4	7	1.0	2.0
3	李洋		10	20	2.0	4.0
4	徐鹏程		5	7	2.0	2.0