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摘要:
采用近空间升华法在 GaAs (100)衬底上外延生长CdZnTe 单晶厚膜,用化学腐蚀的方法去除掉GaAs(100)衬底后,对CdZnTe 外延膜上、下表面的形貌、成分、结构以及电学性能进行了表征分析。SEM和EDS 的结果表明,CdZnTe 外延膜表面平滑致密且膜中成分分布较均匀;红外透过成像分析的结果表明, CdZnTe厚膜中无明显的 Te 夹杂相;X 射线摇摆曲线、PL 谱的结果表明,随着薄膜厚度的增加,CdZnTe外延膜中的晶体缺陷减少,应变弛豫,结晶质量提高,通过增加膜厚可以获得高质量的 CdZnTe 外延膜;电学测试表明,CZT外延膜的电阻率在1010Ω·cm数量级,且具有较好的光电响应特性,可用于高能射线探测。
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文献信息
篇名 近空间升华法制备CdZnTe外延厚膜及其性能研究
来源期刊 功能材料 学科 工学
关键词 近空间升华法 CdZnTe外延厚膜 PL谱 应变弛豫
年,卷(期) 2014,(10) 所属期刊栏目 研究?开发
研究方向 页码范围 10072-10075
页数 4页 分类号 TB34
字数 2896字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-9731.2014.10.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 介万奇 西北工业大学凝固技术国家重点实验室 272 1636 19.0 27.0
2 张昊 西北工业大学凝固技术国家重点实验室 15 17 3.0 3.0
3 查钢强 西北工业大学凝固技术国家重点实验室 38 93 5.0 7.0
4 蔺云 西北工业大学凝固技术国家重点实验室 2 2 1.0 1.0
5 周岩 西北工业大学凝固技术国家重点实验室 7 9 2.0 2.0
6 汤三奇 西北工业大学凝固技术国家重点实验室 2 2 1.0 1.0
7 李嘉伟 西北工业大学凝固技术国家重点实验室 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
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近空间升华法
CdZnTe外延厚膜
PL谱
应变弛豫
研究起点
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期刊影响力
功能材料
月刊
1001-9731
50-1099/TH
16开
重庆北碚区蔡家工业园嘉德大道8号
78-6
1970
chi
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