基于遗传新陈代谢灰色模型的电子设备故障预测研究

• 作者: 张欣豫 戴怡维 朱晓菲 王国华
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 序列光滑度 背景值 遗传算法 新陈代谢GM(1,1,λ)模型 电子设备
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 通信与信息技术 -- 通信设备
• 页码范围: 86-89
• 页数: 4页
• 分类号: TN710-34|N941.5
• 语种: 中文

摘要

经过研究分析，序列光滑度和背景值构造是常规灰色GM（1，1）模型误差的主要来源。针对这一问题，提出了一种改进的方法：首先对建模序列进行对数平滑处理，而后利用遗传算法对背景值进行寻优，并形成改进的新陈代谢GM（1，1，λ）模型。最后通过实例验证，表明改进的新陈代谢模型具有更高的预测精度，可用于电子设备的寿命预测。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王国华	第二炮兵工程大学一系	26	88	5.0	7.0
2	张欣豫	第二炮兵工程大学一系	10	66	5.0	8.0
3	朱晓菲	第二炮兵工程大学一系	8	11	2.0	3.0