基于DSP和LabVIEW的1553B总线芯片测试系统的设计与实现

• 作者: 孙先松 王鲁涛
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: DSP 1553B BU-61580 TMS320F2812 LabVIEW 芯片测试
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 2412-2414,2418
• 页数: 4页
• 分类号: TP23
• 语种: 中文

摘要

1553B芯片测试系统由上位机和下位机两部分构成,下位机是用两片DSP芯片作为控制芯片构建两个1553B总线的终端,上位机在计算机上用LabVIEW平台控制一块1553B的总线板卡,并且通过串口发送各种测试命令给下位机,共同完成对DDC公司的BU-61580系列芯片的内部功能、总线协议功能及电气特性测试,对被测芯片处于BC、RT、MT三种不同类型终端时的各种功能与时序进行直观显示;测试环境与芯片在实际运用中效果一样,可以对芯片进行筛选,成本低;通过在某单位实际应用表明,该测试系统具有测试简单、功能全面、性能稳定的特点,系统还可自检,满足了用户的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙先松	长江大学电子信息学院	33	103	6.0	8.0
2	王鲁涛		1	1	1.0	1.0