集成电路测试原理和向量生成方法分析

• 作者: 宋尚升
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 集成电路测试 自动测试设备 测试向量 向量生成
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件 -- 集成电路与微电子技术
• 页码范围: 122-124,128
• 页数: 4页
• 分类号: TN964-34
• 语种: 中文

摘要

测试向量生成是集成电路测试的一个重要环节。在此从集成电路基本测试原理出发，介绍了一种ATE测试向量生成方法。通过建立器件模型和测试平台，在仿真验证后，按照ATE向量格式，直接生成ATE向量。以一种实际的双向总线驱动电路74ALVC164245为例，验证了此方法的可行性，并最终得到所需的向量文本。该方法具有较好的实用性，对进一步研究测试向量生成，也有一定的参考意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋尚升		1	16	1.0	1.0