X 荧光光谱法快速测定手机有害元素含量

• 作者: 刘祥军 叶俊英 杨雅兰 梁木春 陈燕舞 黄思琪
• 来源期刊: 广州化工
• 学科: 化学
• 关键词: X荧光光谱法 手机 RoHS 有害元素
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 131-132,166
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1598字
• 语种: 中文

摘要

采用X荧光光谱仪快速分析20款手机表面的Cr、 Cd、 Pb、 Hg以及Br等多种RoHS限制的有害元素含量。该方法对不同大小，形状，品牌的手机可不做任何的预处理，直接无损测定其表面有害元素。测定结果表明，抽查的20款手机，整体表现优秀，合格率达到95％；方法精密度良好。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨雅兰	顺德职业技术学院应用化工技术学院	13	10	2.0	2.0
2	陈燕舞	顺德职业技术学院应用化工技术学院	25	57	4.0	6.0
3	刘祥军	顺德职业技术学院应用化工技术学院	10	12	3.0	3.0
4	黄思琪	顺德职业技术学院应用化工技术学院	1	0	0.0	0.0
5	梁木春	顺德职业技术学院应用化工技术学院	1	0	0.0	0.0
6	叶俊英	顺德职业技术学院应用化工技术学院	1	0	0.0	0.0