X-射线全谱拟合法测量钛白粉的晶粒度

• 作者: 刘胜 孙计赞 王乐 王克刚 王永在 许宏民
• 来源期刊: 山东化工
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线粉末衍射 全谱拟合 钛白粉 晶粒度
• 年，卷（期）: 2014,（12）
• 所属期刊栏目: 分析与测试
• 页码范围: 75-76,78
• 页数: 3页
• 分类号: O434.13
• 字数: 2101字
• 语种: 中文

摘要

采用X射线粉末衍射(XRD)全谱拟合的方法测量了钛白粉样品的晶粒度.选择步进式扫描采谱、结合全谱拟合法程序Top*中的基本参数法(FPA)软件全谱拟合,计算得到晶粒度参数,并与X射线粉末衍射线宽法、扫描电镜(SEM)分析结果进行对比.综合分析认为,X射线全谱拟合法计算钛白粉晶粒度无需标样、操作简便、分析快速准确,可以作为钛白粉的质量控制方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王永在		21	105	6.0	9.0
2	王克刚		19	25	3.0	4.0
3	许宏民		32	65	5.0	6.0
4	孙计赞		19	45	5.0	6.0
5	王乐		11	10	2.0	2.0
6	刘胜		15	25	3.0	4.0