密集阅读器环境下RFID系统识别性能研究

• 作者: 佘开 唐志军 王宇
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 射频识别 同信道干扰 多天线分集 空口参数
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 通信与信息技术 -- 无线通信
• 页码范围: 43-46
• 页数: 4页
• 分类号: TN015-34
• 语种: 中文

摘要

密集阅读器环境下的同信道干扰将显著降低阅读器识别性能，基于Nakagami-m多径信道模型和最大比合并（MRC）算法，推导了多天线分集RFID系统反向识别距离的数学期望值闭合表达式，并遵循ISO18000-6C标准的空口参数进行数值仿真，验证了推导的结论。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐志军		56	365	9.0	18.0
2	王宇		18	28	3.0	4.0
6	佘开		2	4	1.0	2.0