APD单光子计数的主动抑制系统

• 作者: 孟浩 常海涛 文超 祝连庆 那云虓 郭阳宽
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: APD 主动抑制 死区时间 ECL电平 CPLD
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 电子技术应用 -- 电子技术
• 页码范围: 125-127
• 页数: 3页
• 分类号: TN911.74-34|TH776
• 语种: 中文

摘要

设计了一种主动抑制系统，用以控制APD在单光子计数检测时的死区时间。该系统主要利用ECL（射随耦合逻辑）电平电路对雪崩脉冲进行快速甄别从而判断光子到来与否，再将比较器输出的脉冲通过整形处理输出给延时电路，利用CPLD搭建延时电路，输出两路延时脉冲，两路延时脉冲分别输出给主动抑制电路和快恢复电路，以完成APD死区时间的控制。此主动抑制系统，有效地将死区时间缩短在45 ns；将光子计数率提高到20 MHz。