软X射线激光探针诊断高Z材料等离子体

• 作者: 孟祥富 安红海 方智恒 王世绩 王伟 王琛 谢志勇 贾果
• 来源期刊: 物理学报
• 关键词: 等离子体诊断 激光探针技术 软X射线激光 高Z材料等离子体
• 年，卷（期）: 2014,（21）
• 所属期刊栏目: 气体、等离子体和放电物理
• 页码范围: 284-289
• 页数: 6页
• 语种: 中文
• DOI: 10.7498/aps.63.215203

摘要

激光辐照靶产生的等离子体电子密度的诊断对于惯性约束聚变、高能量密度物理等相关领域的研究具有重要意义，特别是高Z材料等离子体临界面附近的电子密度分布信息的测量。利用软X射线激光作为探针是诊断等离子体电子密度分布的一种重要方法，但在诊断激光辐照高Z材料产生的等离子体研究中，遇到了高Z材料等离子体自发辐射过大的问题，难以开展。为此，针对软X射线激光的特点，发展了多种具体的实验技术。通过综合利用这些技术，大大的抑制了待测等离子体自发辐射对信号的影响，使得软X射线激光探针诊断高Z材料等离子体成为可能。作为典型例子，实验诊断了激光辐照金平面靶的等离子体，获得了清晰的实验图像，表明相关的技术是有效和可行的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王琛		13	42	5.0	6.0
2	方智恒		10	20	2.0	3.0
3	王伟		13	40	5.0	5.0
4	王世绩		9	42	4.0	6.0
5	贾果		5	9	1.0	2.0
6	谢志勇		11	14	2.0	3.0
7	孟祥富		4	8	1.0	2.0
8	安红海		7	14	2.0	3.0