基于ECC校验算法的记录器设计

• 作者: 丁宁 李锦明 杜东海 程龙
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 错误检查和纠错算法 现场可编程逻辑阵列 与非型闪存
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 所属期刊栏目: 算法、设计与应用
• 页码范围: 3288-3289,3300
• 页数: 3页
• 分类号: TH99
• 语种: 中文

摘要

鉴于K9MDG08U5M在存储过程中出现的错“位”现象,提出利用ECC算法对数据进行校验和纠错.由于该款NANDFLASH一页数据出现的错“位”现象有时不止一位,而一般的ECC算法其纠错能力只有1 bit/4 kB,故一种纠错能力更强的新型算法将被设计和实现;该新型算法具有8 bit/4 kB的纠错能力和16 bit/4 kB的检错能力,且已成功应用于某数据采集存储系统中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李锦明	中北大学电子测试国家重点实验室	75	469	11.0	16.0
5	杜东海	中北大学电子测试国家重点实验室	6	40	4.0	6.0
7	丁宁	中北大学电子测试国家重点实验室	11	52	4.0	7.0
9	程龙	中北大学电子测试国家重点实验室	4	17	3.0	4.0