存储器测试算法及诊断覆盖率研究

• 作者: 谢亚莲 陈金鸿
• 来源期刊: 企业技术开发（下半月）
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器 测试算法 诊断覆盖率
• 年，卷（期）: 2014,（8）
• 所属期刊栏目: 技术开发
• 页码范围: 9-10
• 页数: 2页
• 分类号: TP333.8
• 字数: 2192字
• 语种: 中文

摘要

随着微电子技术的快速进步，半导体集成电路高速发展，新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程，并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上，吸收经典算法的思想，比较各种不同算法的优缺点，改进测试算法，以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间，提高故障诊断覆盖率，达到比较满意的测试效果。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢亚莲		14	28	3.0	4.0
2	陈金鸿		2	3	1.0	1.0