一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法

• 作者: 李立健 涂吉 王子龙
• 来源期刊: 计算机科学
• 学科: 工学
• 关键词: 聚类压缩 移位压缩 内建自测试 测试激励
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 2013'容错计算
• 页码范围: 33-36
• 页数: 4页
• 分类号: TP306.2
• 字数: 4064字
• 语种: 中文

摘要

提出一种针对内建自测试的测试激励聚类移位压缩方法.对难测故障的测试向量进行聚类压缩,将测试向量划分为若干类,每类内的向量相互之间最多只有一比特相异,从每类中只选取一个种子向量存储到ROM中.为了进一步提高测试向量压缩率,对聚类后的种子向量再进行移位压缩.实验结果表明,聚类移位压缩具有较高的测试数据压缩率,能减少难测向量存储单元,且能以芯片频率进行测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李立健	中国科学院自动化研究所	10	79	4.0	8.0
2	涂吉	中国科学院自动化研究所	4	9	2.0	2.0
3	王子龙	中国科学院自动化研究所	4	9	2.0	2.0