一种DC到40 GHz测试结构的设计

• 作者: 万里兮 于中尧 张童龙 张迪 李宝霞 李晨 汪柳平 虞国良
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 阻抗匹配 插损 回损 TDR 测试结构 信号完整性
• 年，卷（期）: 2014,（16）
• 所属期刊栏目: 电子与信息器件 -- 电子测量与仪器
• 页码范围: 127-130,134
• 页数: 5页
• 分类号: TN964-34
• 语种: 中文

摘要

高速信号在传输的过程中将遇到信号完整性的问题的困扰，尤其当信号速率超过10 Gb/s时，当传输结构发生变化的时候，在导体之间传输的场将发生变化，传输过程的阻抗将发生变化。通过对传输结构变化的地方进行修正，可以对阻抗变化进行一定的补偿，减小结构变化处带来的信号反射，减小信号传输损耗，最终整个测试板在40 GHz时仿真损耗仅为1.1 dB，并通过两个测试结构对接进行了S参数和眼图的测试评估。