SIFT算法与折半查找法在产品表面缺陷检测中的应用

• 作者: 徐青 杨志刚 韩跃平
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 缺陷检测 SIFT 算法 折半查找法 区域分割 减影法
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 273-275
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.41
• 语种: 中文

摘要

为了准确快速实现对产品结构质量的全方位完整检测，首先采用 SIFT 算法与折半查找法确定任意角度拍摄的待检产品在标准图像库中最优位置信息，其次根据先验知识将其转到待识别区域所在角度利用投影法分割出感兴趣区域，最后通过减影法及相关度计算判别有无缺陷；实验表明在保证检测准确率的前提下，文章所用匹配方法比传统全周向固定步长方法平均可节省2．08s。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩跃平	中北大学信息与通信工程学院	30	46	4.0	5.0
2	杨志刚	中北大学信息与通信工程学院	7	11	2.0	2.0
3	徐青	中北大学信息与通信工程学院	8	17	3.0	4.0